登录 免费注册 首页 求购 专业市场 展会 人才 会员中心

深圳市鸿怡电子有限公司

试用会员试用会员 会员积分:300     
· 商铺首页
· 公司介绍
· 诚信资料
· 供应信息
· 采购信息
· 公司新闻
· 会员资料
· 招聘信息
· 客户留言
· 联系方式
友情联接
产品供应
深圳市鸿怡电子有限公司:
 TO263-5L翻盖测试座功率器件芯片老化测试失效性分析批量极限验证

TO263-5L翻盖测试座功率器件芯片老化测试失效性分析批量极限验证

 QFN32(5x5)-0.5测试座非标芯片调试烧录老化老练测试PMIC功率器件

QFN32(5x5)-0.5测试座非标芯片调试烧录老化老练测试PMIC功率器件

 LCC146-1.0-35x44芯片测试座用于IoT调试以及射频性能验证

LCC146-1.0-35x44芯片测试座用于IoT调试以及射频性能验证

 BGA272闪存测试夹具SM2246EN主控一拖二翻盖测试座SSD测试治具

BGA272闪存测试夹具SM2246EN主控一拖二翻盖测试座SSD测试治具

 QFN92-0.35老化座收发单片机MCU测试烧录老炼等失效性分析连接器

QFN92-0.35老化座收发单片机MCU测试烧录老炼等失效性分析连接器

 TO220\/247ATE测试座用于IGBT芯片finaltest高速自动化上下料老化

TO220\/247ATE测试座用于IGBT芯片finaltest高速自动化上下料老化

 QFN82(8*8)-0.35芯片测试座用于老化老炼烧录性能调试失效分析

QFN82(8*8)-0.35芯片测试座用于老化老炼烧录性能调试失效分析

 QFN104芯片测试座0.35mm间距10x10mm尺寸老化测试烧录IC

QFN104芯片测试座0.35mm间距10x10mm尺寸老化测试烧录IC

 LCC48-1.0收发光模块测试座支持10Gbps即VCSEL阵列低功耗高速数据

LCC48-1.0收发光模块测试座支持10Gbps即VCSEL阵列低功耗高速数据

 MSOP10转DIP10老化测试座带板编程烧录座镀金耐高温0.5间距

MSOP10转DIP10老化测试座带板编程烧录座镀金耐高温0.5间距

 QFN88-0.35下压老化座支持V831AICameraSoC芯片8x8mm老化测试

QFN88-0.35下压老化座支持V831AICameraSoC芯片8x8mm老化测试

 QFN40-0.5微小型测试座支持6x6mm用于MLF\/QFN封装芯片老化测试

QFN40-0.5微小型测试座支持6x6mm用于MLF\/QFN封装芯片老化测试

 DFN6-0.65-2x2芯片烧录座用于此类芯片固件烧录调试校验测试

DFN6-0.65-2x2芯片烧录座用于此类芯片固件烧录调试校验测试

 定制QFJCLCC24带引脚陶瓷芯片载体测试夹具EPROM读写座老化测试座

定制QFJCLCC24带引脚陶瓷芯片载体测试夹具EPROM读写座老化测试座

 PLCC28-1.27-12.45x12.45烧录座老化座IC烧录编程测试座可靠测

PLCC28-1.27-12.45x12.45烧录座老化座IC烧录编程测试座可靠测

 QFP100-0.65翻盖老化座国产替代本体尺寸14x20带脚17.9x23.9mm

QFP100-0.65翻盖老化座国产替代本体尺寸14x20带脚17.9x23.9mm

 WLCSP6-0.4测试座0.792*1.192mmLDOregulatorCMOS芯片老化验证

WLCSP6-0.4测试座0.792*1.192mmLDOregulatorCMOS芯片老化验证

 DFN8-2.08X8翻盖老化座LFPAKHEMT芯片功率器件低阻抗大电流测试

DFN8-2.08X8翻盖老化座LFPAKHEMT芯片功率器件低阻抗大电流测试

 BGA77-1.27-15x9翻盖老化座LTM4664系列芯片失效性分析测试用途

BGA77-1.27-15x9翻盖老化座LTM4664系列芯片失效性分析测试用途

 TSSOP14脚芯片测试座IC老化座弹跳座子ots28-0.65-01SSOP14底座

TSSOP14脚芯片测试座IC老化座弹跳座子ots28-0.65-01SSOP14底座

共有344条记录 每页显示20条 共18页 当前第2页  【首页】 【上一页】 【下一页】 【尾页】